實(shí)驗(yàn)室粉碎磨在稻米品質(zhì)檢測(cè)工作中的應(yīng)用
來(lái)源： http://www.815oz.cn/ 類別：實(shí)用技術(shù) 更新時(shí)間：2020-10-12 閱讀次
在稻米品質(zhì)檢測(cè)工作中，很多時(shí)候是需要將樣品進(jìn)行前處理，然后再進(jìn)行檢測(cè)、分析等操作，而在前處理步驟中，粉碎研磨是尤為重要的一環(huán)，如果研磨的不徹底，后續(xù)得出的檢測(cè)數(shù)據(jù)也是不準(zhǔn)確的。以往采用的多是研磨的方式進(jìn)行樣品前處理的，人工研磨不僅耗時(shí)費(fèi)力，而且容易出現(xiàn)交叉污染，樣品流失等問(wèn)題。所以，現(xiàn)如今，很多科研部門或品質(zhì)監(jiān)督部門多是使用實(shí)驗(yàn)室粉碎磨來(lái)進(jìn)行稻米樣品前處理的。
實(shí)驗(yàn)室粉碎磨采用高速氣旋原理來(lái)進(jìn)行稻米樣品前處理的，樣品自進(jìn)料口緩緩加入，被葉輪產(chǎn)生的高速氣流甩到磨室環(huán)上，被撞擊成粉末，并由風(fēng)路送入樣品采集瓶中，能夠?yàn)榻德鋽?shù)值、面筋指數(shù)、粘度值測(cè)定、蛋白質(zhì)測(cè)定等提供標(biāo)準(zhǔn)的分樣。
在需要利用實(shí)驗(yàn)室粉碎磨將稻米粉碎時(shí)，應(yīng)將儀器置于接近電源的位置，核對(duì)電源是否符合儀器的使用要求，使用前檢查篩片是否符合使用要求，加工要求較低時(shí)，取下篩片進(jìn)行更換。應(yīng)當(dāng)檢查試樣瓶座上下運(yùn)動(dòng)的靈活性。同時(shí)還應(yīng)打開磨腔蓋檢查，清理掉磨腔內(nèi)和密封墊上的粉粒或其他雜物，并檢查和清理磨腔底座左側(cè)小孔內(nèi)的粉塵，保障孔內(nèi)電源保護(hù)開關(guān)當(dāng)觸點(diǎn)壓下時(shí)不受阻。在使用前對(duì)儀器進(jìn)行相應(yīng)的檢查，可以有效避免一些原因?qū)е聝x器損壞，同時(shí)，也能夠避免粉塵殘留對(duì)下一次實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)確性的影響。
實(shí)驗(yàn)室粉碎磨采用高速氣旋原理來(lái)進(jìn)行稻米樣品前處理的，樣品自進(jìn)料口緩緩加入，被葉輪產(chǎn)生的高速氣流甩到磨室環(huán)上，被撞擊成粉末，并由風(fēng)路送入樣品采集瓶中，能夠?yàn)榻德鋽?shù)值、面筋指數(shù)、粘度值測(cè)定、蛋白質(zhì)測(cè)定等提供標(biāo)準(zhǔn)的分樣。
在需要利用實(shí)驗(yàn)室粉碎磨將稻米粉碎時(shí)，應(yīng)將儀器置于接近電源的位置，核對(duì)電源是否符合儀器的使用要求，使用前檢查篩片是否符合使用要求，加工要求較低時(shí)，取下篩片進(jìn)行更換。應(yīng)當(dāng)檢查試樣瓶座上下運(yùn)動(dòng)的靈活性。同時(shí)還應(yīng)打開磨腔蓋檢查，清理掉磨腔內(nèi)和密封墊上的粉粒或其他雜物，并檢查和清理磨腔底座左側(cè)小孔內(nèi)的粉塵，保障孔內(nèi)電源保護(hù)開關(guān)當(dāng)觸點(diǎn)壓下時(shí)不受阻。在使用前對(duì)儀器進(jìn)行相應(yīng)的檢查，可以有效避免一些原因?qū)е聝x器損壞，同時(shí)，也能夠避免粉塵殘留對(duì)下一次實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)確性的影響。
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